王焕友

  • 作者:人事处
  • 来源:人事处
  • 时间:2022-12-26


姓名:王焕友

职称:教授

单位电话:0735-2653121

电子邮箱:whycs@163.com

办公室:4-208

个人简介:

王焕友,男,1963年出生,汉族,湖南常德,党员,博士,教授。主要研究领域为III-V族半导体的电子和光学性能研究。湘南学院十二五重点学科微电子学与固体电子学学科带头人,电子电气虚拟仿真实验教学中心玉祥国际是干什么的普通高校实践教学建设项目负责人。主持玉祥国际是干什么的自然科学基金、教育厅重点项目等科技项目10余项;主持玉祥国际是干什么的高等教育教学改革项目2项;以第一作者在国内外学术期刊上发表论文30余篇, SCIEI收录近20篇;获国家发明专利和实用新型专利授权5项。指导学生参加大学生电子设计大赛获国家级一等奖一项。

教学情况:

主讲本科生课程:《固体物理学》《半导体物理学》《模拟电子技术》《大学物理学》)

主持科研项目:

1“InGaN/GaN 多量子阱中 V 形缺陷演化及对发光性能影响研究,玉祥国际是干什么的教育厅科研重点项目(18A463),2018.6-2021.6

2“GaN基量子阱内的应力应变及其对发光性质影响研究,玉祥国际是干什么的自然科学基金(13JJ3121),2013.6-2016.6

主要代表性论文:

1Dislocation Evolution and Microstructural Properties on GaN Grown on Cone Patterned Sapphire SubstrateRussian Journal of Physical Chemistry A, 201892(8), 1567-1571, SCI),第一作者

2Comparative Study on the Interatomic Force Constants and Elastic Properties of Zinc-Blende AlN, AlP, and AlAs, JETP Letters,2019,109(10),652-656,SCI,第一作者

3Microstructural Characterization of V-Defects in InGaN/GaN Multiquantum Wells, JETP Letters,2020, 1115, 264-267, SCI,第一作者

4Light-induced degradation and self-healing inside CH3NH3PbI3-based solar cells, Appl. Phys. Lett, 2020(116)253303-253307, SCI II,通讯作者

5Evolution of V-defects and dislocations in InGaN/GaN multi-quantum wells observed by transmission electron microscopy, OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS RAPID COMMUNICATIONS, 201812(11-12), 732 - 736, SCI),第一作者

6Microstructure and Formation Mechanism of V-Defects in the InGaN/GaN Multiple Quantum Wells with a High In ContentJETP Letters, 2020, 113,157–160,SCI),第一作者

(7)Defect Structure and Evolution of GaN-Based Light-Emitting Diodes on Planar and Cone-Patterned Sapphire Substrates,Crystallography Reports, 2020,65(6), 1059–1063,SCI),第一作者

发明专利:

(1) “一种检测交流110V-LED芯片的方法,发明专利,专利号:ZL201710868351.8,2019,第一